でんしせんかいせつ
電子線を照射して得られるBraggの条件を満たす回折像をもとに、表面層や薄膜の構成物質を同定したり、結晶構造を解析する方法。
独立行政法人 産業技術総合研究所 (知財管理番号 : H15PRO160)