えっくすせんかいせつほう
X線を照射して得られるBraggの条件を満たす回折像をもとに、構成物質を同定したり、結晶構造を解析する一般的な方法。
独立行政法人 産業技術総合研究所 (知財管理番号 : H15PRO160)